半導體器件，場效應晶體管，絕緣柵雙極晶體管等。測試項目：結殼熱阻和結-殼瞬態熱阻抗，高溫阻斷(HTRB)，高溫棚極偏置，功率循環，強加速穩態濕熱，穩態濕熱偏置壽命，靜電放電敏感度/機器模型，靜電放電敏感度/人體模型，聲學掃描測試。
測試標準
GB/T 2900.32-1994電工術語 電力半導體器件
GB/T 2900.66-2004電工術語 半導體器件和集成電路
GB/T 3876-2017鉬及鉬合金板材
GB/T 4023-2015半導體器件 分立器件和集成電路 第2部分：整流二極管
GB/T 4586-1994半導體器件 分立器件 第8部分:場效應晶體管
GB/T 4589.1-2006半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規范
GB/T 4937.1-2006半導體器件 機械和氣候試驗方法 第1部分: 總則
GB/T 4937.2-2006半導體器件 機械和氣候試驗方法 第2部分:低氣壓
GB/T 4937.3-2012半導體器件 機械和氣候試驗方法 第3部分：外部目檢
GB/T 4937.4-2012半導體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分：強加速穩態濕熱試驗(HAST)
GB/T 4937.11-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第11部分：快速溫度變化 雙液槽法
GB/T 4937.12-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第12部分：掃頻振動
GB/T 4937.13-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第13部分：鹽霧
GB/T 4937.14-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第14部分：引出端強度(引線牢固性)
GB/T 4937.15-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第15部分：通孔安裝器件的耐焊接熱
GB/T 4937.17-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第17部分：中子輻照
GB/T 4937.18-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第18部分：電離輻照(總劑量)
GB/T 4937.19-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第19部分：芯片剪切強度
GB/T 4937.20-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第20部分：塑封表面安裝器件耐潮濕和焊接熱綜合影響
GB/T 4937.21-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第21部分：可焊性
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半導體器件
試驗項目：結殼熱阻和結-殼瞬態熱阻抗，高溫阻斷(HTRB)，高溫棚極偏置，功率循環，強加速穩態濕熱，穩態濕熱偏置壽命，靜電放電敏感度/機器模型，靜電放電敏感度/人體模型，聲學掃描測試。
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場效應晶體管
試驗項目：柵漏(直流)電壓，漏極(直流)電流，漏極峰值電流，漏極反向(直流)電流，漏極反向峰值電流，反偏安全工作區，短路安全工作區，重復雪崩能量，非重復雪崩能量，擊穿電壓，漏極漏電流，開關時間，開通能量，關斷能量，柵極電荷，輸入電容，輸出電容，反向傳輸電容，柵極內阻。
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絕緣柵雙極晶體管
試驗項目：集電極-發射極電壓，最大集電極電流，最大集電極峰值電流，最大反偏安全工作區，最大短路安全工作區，集電極-發射極飽和電壓，棚極-發射極闌值電壓，集電極截止電流，棚極漏電流，輸入電容，反向傳輸電容，棚極電荷，結-殼熱阻和結-殼瞬態熱阻抗，柵極內阻。
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服務保障 一對一品質服務
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定制方案 提供非標定制試驗方案
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保密協議 簽訂保密協議，嚴格保護客戶隱私
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全國取樣/寄樣 全國上門取樣/寄樣/現場試驗
