納米粒子動態光散射粒徑檢測

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注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

信息概要

納米粒子動態光散射粒徑檢測是一種通過分析納米粒子在溶液中的布朗運動來測定其粒徑分布的技術。該技術廣泛應用于材料科學、生物醫藥、化工等領域，對于納米材料的質量控制、性能評估及安全性研究具有重要意義。通過精確測量納米粒子的粒徑分布，可以確保產品的穩定性、一致性和適用性，為研發和生產提供關鍵數據支持。

檢測項目

平均粒徑,粒徑分布,多分散指數,Zeta電位,濃度,穩定性,團聚狀態,表面電荷,分子量,流體力學半徑,遷移率,電泳遷移率,折射率,吸光度,散射強度,溫度依賴性,pH依賴性,離子強度影響,時間穩定性,形貌分析

檢測范圍

金屬納米粒子,氧化物納米粒子,聚合物納米粒子,碳基納米材料,量子點,脂質體,膠束,納米乳液,納米纖維,納米棒,納米片,納米管,納米球,納米復合材料,生物納米粒子,藥物載體納米粒子,熒光納米粒子,磁性納米粒子,陶瓷納米粒子,半導體納米粒子

檢測方法

動態光散射法(DLS)：通過測量納米粒子散射光強度的波動來分析粒徑分布。

電泳光散射法(ELS)：結合電泳和光散射技術測定Zeta電位和表面電荷。

靜態光散射法(SLS)：通過測量散射光強度確定分子量和粒徑。

納米顆粒跟蹤分析(NTA)：利用光散射和布朗運動跟蹤單個納米粒子。

場流分離-光散射聯用(FFF-DLS)：通過場流分離與光散射聯用提高分辨率。

離心沉降法：通過離心力分離不同粒徑的納米粒子并分析。

透射電子顯微鏡(TEM)：直接觀察納米粒子的形貌和尺寸。

掃描電子顯微鏡(SEM)：通過電子束掃描獲得納米粒子表面形貌。

原子力顯微鏡(AFM)：通過探針掃描測量納米粒子的三維形貌。

X射線衍射(XRD)：通過衍射峰分析納米粒子的晶體結構和尺寸。

小角X射線散射(SAXS)：通過X射線散射分析納米粒子的尺寸和形狀。

紫外-可見光譜(UV-Vis)：通過吸光度分析納米粒子的光學性質。

熒光光譜法：用于熒光納米粒子的尺寸和性質分析。

拉曼光譜法：通過拉曼散射分析納米粒子的化學組成和結構。

質譜法：用于納米粒子的分子量和組成分析。

檢測儀器

動態光散射儀,電泳光散射儀,納米顆粒跟蹤分析儀,場流分離儀,離心沉降儀,透射電子顯微鏡,掃描電子顯微鏡,原子力顯微鏡,X射線衍射儀,小角X射線散射儀,紫外-可見分光光度計,熒光分光光度計,拉曼光譜儀,質譜儀,Zeta電位分析儀

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（納米粒子動態光散射粒徑檢測）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。