注意:因業務調整,暫不接受個人委托測試望見諒。
焊點外觀檢查:通過顯微鏡觀察焊點表面是否存在氧化、變色或異物附著。
腐蝕深度測量:使用精密儀器量化焊點被腐蝕的縱向滲透程度。
錫須生長檢測:評估焊料在潮濕環境中自發形成導電錫須的風險。
離子污染測試:檢測焊點表面殘留的鹵素等可導致電化學遷移的離子含量。
電導率變化率:對比腐蝕前后焊點的導電性能衰減幅度。
機械強度測試:測定腐蝕后焊點抗剪切力或拉拔力的能力。
潤濕性分析:評估焊料在基材上的鋪展能力是否因腐蝕而下降。
微觀結構觀測:通過SEM分析腐蝕對焊料晶界結構的破壞情況。
鹽霧試驗:模擬海洋大氣環境加速腐蝕的耐受性。
濕熱老化測試:在高溫高濕條件下評估焊點耐久性。
硫化物腐蝕測試:檢測焊點對含硫氣體的敏感度。
氯離子滲透率:量化氯離子對焊點內部結構的侵蝕速度。
電化學阻抗譜:通過交流阻抗法研究腐蝕界面反應機制。
腐蝕產物成分分析:采用EDS確定氧化物的元素組成。
孔隙率檢測:評估腐蝕導致的焊點內部空洞比例。
熱循環腐蝕測試:結合溫度交變與腐蝕環境的復合影響。
霉菌敏感性:評估有機污染物滋生霉菌對焊點的二次侵蝕。
助焊劑殘留檢測:測定殘留助焊劑對腐蝕的催化作用。
pH值影響測試:分析不同酸堿度溶液對焊點的腐蝕速率。
振動腐蝕耦合測試:模擬機械振動與腐蝕的協同效應。
金相切片分析:通過截面制樣觀察腐蝕的橫向擴散情況。
紅外熱成像檢測:監測腐蝕區域因電阻增大導致的局部溫升。
X射線熒光檢測:無損測定焊點表面元素成分變化。
接觸電阻測試:評估腐蝕導致的界面接觸電阻升高。
加速壽命試驗:通過強化環境參數推算實際使用壽命。
可焊性保持率:檢測腐蝕后焊點的二次焊接性能。
腐蝕電位測定:通過電化學工作站獲取材料的自腐蝕傾向。
腐蝕電流密度:量化單位面積上的電化學反應強度。
表面粗糙度變化:分析腐蝕導致的焊點表面形貌劣化。
元素遷移測試:檢測銅、錫等金屬元素在腐蝕過程中的擴散行為。
PBGA塑料球柵陣列,CBGA陶瓷球柵陣列,TBGA載帶球柵陣列,MBGA金屬球柵陣列,FCBGA倒裝芯片球柵陣列,PBGA增強型,LFBGA低剖面球柵陣列,VFBGA極細間距球柵陣列,UBGA超薄球柵陣列,WLCSP晶圓級芯片尺寸封裝,CSP芯片尺寸封裝,QFN方形扁平無引腳封裝,POP堆疊封裝,SiP系統級封裝,MCM多芯片模塊,COB芯片直接綁定,FCOB倒裝芯片直接綁定,SCSP堆疊芯片尺寸封裝,3D封裝,TSV硅通孔封裝,PiP封裝內堆疊,PoP封裝上堆疊,FCIP倒裝芯片集成封裝,WBB線鍵合球柵陣列,HDI高密度互連板,FPC柔性電路板,Rigid-Flex剛柔結合板,HDI微孔板,埋入式元件板
目視檢測法:依據IPC-A-610標準進行表面缺陷初步篩查。
掃描電鏡法:利用SEM獲取微米級腐蝕形貌特征。
能譜分析法:通過EDS進行腐蝕區域元素定性與半定量。
X射線衍射法:鑒定腐蝕產物的晶體結構類型。
電化學極化法:測定塔菲爾曲線獲取腐蝕動力學參數。
鹽霧試驗法:按ASTM B117進行中性鹽霧加速腐蝕。
濕熱循環法:依據JESD22-A104執行溫濕度交變測試。
金相切片法:通過研磨拋光觀察腐蝕截面特征。
紅外光譜法:分析有機污染物導致的腐蝕機制。
離子色譜法:定量檢測可溶性離子污染物含量。
激光共聚焦法:三維重建腐蝕坑的立體形貌。
超聲掃描法:無損檢測焊點內部空洞與分層缺陷。
熱重分析法:評估腐蝕產物的熱穩定性與成分變化。
四點探針法:測量腐蝕導致的方阻率變化。
振動臺測試法:模擬運輸使用中的機械-化學耦合失效。
氣相色譜法:檢測揮發性腐蝕產物成分。
顯微硬度法:評估腐蝕對焊點局部力學性能的影響。
熒光檢測法:使用熒光染料增強微裂紋可視性。
原子力顯微鏡法:納米級表征腐蝕表面拓撲結構。
電化學噪聲法:監測腐蝕過程中的電流/電位波動特征。
掃描電子顯微鏡,能譜儀,X射線衍射儀,電化學工作站,鹽霧試驗箱,恒溫恒濕箱,金相切割機,紅外熱像儀,離子色譜儀,激光共聚焦顯微鏡,超聲波掃描儀,熱重分析儀,四點探針測試儀,振動試驗臺,氣相色譜質譜聯用儀
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。
2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。
3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對于(BGA焊點腐蝕測試)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
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