AEC-Q100高溫檢測

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注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

信息概要

AEC-Q100高溫檢測是針對汽車電子元件的高可靠性測試標準，確保產品在高溫環境下穩定運行。該檢測是汽車電子元件認證的核心環節，覆蓋從芯片到模塊的各類產品，驗證其在極端溫度條件下的性能、耐久性和安全性。通過AEC-Q100高溫檢測的產品能夠滿足汽車行業對高可靠性和長壽命的要求，降低因高溫導致的故障風險，保障行車安全。

檢測項目

高溫工作壽命測試，高溫存儲測試，溫度循環測試，高溫反向偏壓測試，高溫高濕反偏測試，高溫柵極偏壓測試，高溫漏電流測試，高溫動態老化測試，高溫靜態老化測試，高溫焊接熱測試，高溫電遷移測試，高溫機械應力測試，高溫熱阻測試，高溫絕緣電阻測試，高溫耐壓測試，高溫短路測試，高溫開路測試，高溫參數漂移測試，高溫失效分析，高溫可靠性評估

檢測范圍

微控制器，存儲器，傳感器，功率器件，模擬器件，數字器件，射頻器件，電源管理芯片，LED驅動器，電機驅動芯片，通信模塊，AD/DA轉換器，運算放大器，電壓調節器，時鐘發生器，接口芯片，保護器件，邏輯器件，射頻放大器，濾波器

檢測方法

高溫工作壽命測試（HTOL）：在高溫條件下施加額定電壓，持續運行以評估產品壽命。

高溫存儲測試（HTS）：將產品置于高溫環境中存儲，觀察參數變化。

溫度循環測試（TCT）：通過快速溫度變化驗證產品的熱疲勞性能。

高溫反向偏壓測試（HRB）：在高溫下施加反向偏壓，檢測漏電流和穩定性。

高溫高濕反偏測試（HAST）：結合高溫高濕條件，加速評估產品耐腐蝕性。

高溫柵極偏壓測試（HGB）：針對MOS器件的高溫柵極可靠性驗證。

高溫漏電流測試：測量高溫環境下器件的漏電流特性。

高溫動態老化測試：模擬高溫工作狀態下的動態應力老化。

高溫靜態老化測試：在高溫靜態條件下評估產品長期穩定性。

高溫焊接熱測試：驗證產品在高溫焊接過程中的耐受能力。

高溫電遷移測試：分析高溫下金屬互連的電遷移現象。

高溫機械應力測試：評估高溫對產品機械性能的影響。

高溫熱阻測試：測量高溫環境下器件的熱阻特性。

高溫絕緣電阻測試：檢測高溫條件下絕緣材料的電阻性能。

高溫耐壓測試：驗證產品在高溫下的耐電壓能力。

檢測儀器

高溫試驗箱，溫度循環箱，高加速應力測試系統，熱阻測試儀，半導體參數分析儀，漏電流測試儀，動態老化測試系統，靜態老化測試系統，焊接熱測試儀，電遷移測試系統，機械應力測試機，絕緣電阻測試儀，耐壓測試儀，短路測試儀，失效分析顯微鏡

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（AEC-Q100高溫檢測）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。