溫度沖擊貯存實驗（JESD22-A106）

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注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

信息概要

溫度沖擊貯存實驗（JESD22-A106）是一種用于評估電子元器件、半導體器件及其他產品在極端溫度變化環境下的可靠性和耐久性的測試方法。該實驗通過模擬產品在快速溫度變化條件下的貯存情況，檢測其性能變化、材料老化、結構穩定性等關鍵指標。檢測的重要性在于確保產品在惡劣溫度環境下的長期穩定性，避免因溫度沖擊導致的失效問題，從而提高產品質量和可靠性，滿足行業標準及客戶需求。

檢測項目

溫度循環范圍,溫度變化速率,高溫保持時間,低溫保持時間,循環次數,外觀檢查,電氣性能測試,機械性能測試,材料老化評估,結構穩定性,焊點可靠性,封裝完整性,熱膨脹系數,熱阻測試,濕度敏感性,絕緣電阻,耐電壓測試,失效分析,微觀結構分析,化學兼容性

檢測范圍

半導體器件,集成電路,電子元器件,PCB板,LED器件,傳感器,繼電器,電容器,電阻器,電感器,變壓器,連接器,開關,電源模塊,光電器件,微機電系統,封裝材料,熱管理材料,電子封裝,汽車電子

檢測方法

溫度沖擊測試：將產品在高溫和低溫之間快速轉換，模擬極端溫度變化環境。

高低溫循環測試：通過多次循環高低溫變化，評估產品的耐久性。

外觀檢查：通過目視或顯微鏡觀察產品外觀變化。

電氣性能測試：測量產品在溫度沖擊后的電氣參數變化。

機械性能測試：評估產品在溫度沖擊后的機械強度變化。

材料老化評估：分析材料在溫度沖擊后的老化程度。

結構穩定性測試：檢測產品結構在溫度沖擊后的變形或開裂。

焊點可靠性測試：評估焊點在溫度沖擊后的連接可靠性。

封裝完整性測試：檢查產品封裝在溫度沖擊后的密封性。

熱膨脹系數測試：測量材料在溫度變化下的膨脹或收縮率。

熱阻測試：評估產品在溫度沖擊下的熱傳導性能。

濕度敏感性測試：檢測產品在溫度沖擊后對濕度的敏感程度。

絕緣電阻測試：測量產品在溫度沖擊后的絕緣性能。

耐電壓測試：評估產品在溫度沖擊后的耐電壓能力。

失效分析：通過微觀或化學分析確定產品失效原因。

檢測儀器

溫度沖擊試驗箱,高低溫循環試驗箱,顯微鏡,電氣參數測試儀,萬能材料試驗機,熱分析儀,熱阻測試儀,濕度發生器,絕緣電阻測試儀,耐電壓測試儀,失效分析儀,X射線檢測儀,紅外熱像儀,電子顯微鏡,熱膨脹系數測試儀

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（溫度沖擊貯存實驗（JESD22-A106））還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。