激光剝蝕 微區元素成像（LA-ICP-MS）

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注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

信息概要

激光剝蝕微區元素成像（LA-ICP-MS）是一種高精度、高靈敏度的微區元素分析技術，結合激光剝蝕系統與電感耦合等離子體質譜儀，可實現對固體樣品中元素的定性和定量分析，并生成元素分布圖像。該技術廣泛應用于地質、材料、環境、生物等領域，能夠提供微米級分辨率的元素分布信息，對于研究樣品成分、成因機制、污染溯源等具有重要意義。檢測的重要性在于其能夠揭示樣品的微觀元素組成及空間分布規律，為科研、工業質量控制及環境監測提供關鍵數據支持。

檢測項目

主量元素分析, 微量元素分析, 稀土元素分析, 貴金屬元素分析, 重金屬元素分析, 輕元素分析, 同位素比值測定, 元素分布成像, 元素賦存狀態分析, 礦物成分鑒定, 包裹體成分分析, 環境污染物檢測, 生物組織元素分析, 材料表面成分分析, 薄膜成分分析, 合金成分分析, 礦石品位測定, 土壤元素分布, 水體沉積物分析, 大氣顆粒物成分分析

檢測范圍

地質樣品, 礦物, 巖石, 土壤, 沉積物, 水體, 大氣顆粒物, 生物組織, 金屬材料, 合金, 陶瓷, 玻璃, 薄膜材料, 半導體材料, 電池材料, 催化劑, 環境樣品, 考古樣品, 珠寶玉石, 工業產品

檢測方法

激光剝蝕-電感耦合等離子體質譜法（LA-ICP-MS）：通過激光剝蝕固體樣品，產生的氣溶膠由ICP-MS檢測。

元素分布成像：通過激光掃描樣品表面，生成元素空間分布圖像。

定量分析：采用標準樣品校準，對目標元素進行定量測定。

半定量分析：無需標準樣品，快速估算元素含量。

同位素比值分析：測定樣品中特定同位素的比值。

微區原位分析：對樣品微小區域進行原位成分分析。

深度剖面分析：分析樣品沿深度方向的元素分布。

多元素同時檢測：一次分析可檢測多種元素。

高分辨率成像：提供高空間分辨率的元素分布圖。

包裹體分析：對礦物中流體包裹體的成分進行分析。

痕量元素檢測：檢測樣品中極低含量的元素。

表面污染分析：分析樣品表面的污染物分布。

材料成分表征：對材料的成分進行詳細表征。

生物樣品分析：檢測生物組織中的元素分布。

環境樣品檢測：分析環境樣品中的污染物分布。

檢測儀器

激光剝蝕系統, 電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）, 高分辨率激光剝蝕系統, 飛秒激光剝蝕系統, 納秒激光剝蝕系統, 激光共聚焦顯微鏡, 掃描電子顯微鏡（SEM）, 能譜儀（EDS）, 波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF）, 能量色散X射線熒光光譜儀（ED-XRF）, 二次離子質譜儀（SIMS）, 電子探針顯微分析儀（EPMA）, 原子吸收光譜儀（AAS）, 電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP-OES）, 質譜成像系統

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（激光剝蝕 微區元素成像（LA-ICP-MS））還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。