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隕石樣本同位素豐度(TIMS)檢測是通過熱電離質譜技術對隕石中的同位素組成進行精確分析的服務。該檢測能夠揭示隕石的起源、形成年代以及宇宙化學過程,對于研究太陽系演化、行星形成及地外物質成分具有重要意義。檢測結果可為科研機構、天文研究單位及收藏者提供可靠的數據支持,助力宇宙科學領域的突破性發現。
氧同位素比值, 碳同位素比值, 硫同位素比值, 氮同位素比值, 氫同位素比值, 鉛同位素比值, 鍶同位素比值, 釹同位素比值, 釤同位素比值, 銪同位素比值, 釓同位素比值, 鏑同位素比值, 鉺同位素比值, 鐿同位素比值, 鈾同位素比值, 釷同位素比值, 鉀同位素比值, 鈣同位素比值, 鈦同位素比值, 鉻同位素比值
球粒隕石, 無球粒隕石, 鐵隕石, 石鐵隕石, 碳質球粒隕石, 普通球粒隕石, 頑輝石球粒隕石, 火星隕石, 月球隕石, 小行星隕石, 彗星塵埃隕石, 玻璃隕石, 微隕石, 隕石熔殼, 隕石基質, 隕石包體, 隕石金屬相, 隕石硅酸鹽相, 隕石硫化物相, 隕石氧化物相
熱電離質譜法(TIMS):通過高溫電離樣品中的同位素,利用磁場分離并測定其豐度。
氣體質譜法:測定揮發性同位素組成,適用于輕元素分析。
激光剝蝕電感耦合等離子體質譜法(LA-ICP-MS):微區同位素分析技術。
二次離子質譜法(SIMS):高空間分辨率同位素成像。
同位素稀釋法:通過添加已知同位素標準進行定量分析。
多接收電感耦合等離子體質譜法(MC-ICP-MS):高精度同位素比值測定。
X射線熒光光譜法(XRF):主量元素組成分析。
電子探針微區分析(EPMA):微區元素分布測定。
中子活化分析(NAA):痕量元素含量檢測。
傅里葉變換紅外光譜法(FTIR):有機組分及礦物結構分析。
拉曼光譜法:礦物相鑒定與分子結構研究。
掃描電子顯微鏡(SEM):表面形貌與元素分布觀察。
透射電子顯微鏡(TEM):納米級礦物相分析。
熱重分析法(TGA):揮發分與熱穩定性測定。
X射線衍射法(XRD):礦物相組成鑒定。
熱電離質譜儀(TIMS), 氣體質譜儀, 電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS), 多接收電感耦合等離子體質譜儀(MC-ICP-MS), 二次離子質譜儀(SIMS), 激光剝蝕系統(LA), X射線熒光光譜儀(XRF), 電子探針微區分析儀(EPMA), 中子活化分析儀(NAA), 傅里葉變換紅外光譜儀(FTIR), 拉曼光譜儀, 掃描電子顯微鏡(SEM), 透射電子顯微鏡(TEM), 熱重分析儀(TGA), X射線衍射儀(XRD)
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。
2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。
3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對于(隕石樣本 同位素豐度(TIMS))還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。