注意:因業務調整,暫不接受個人委托測試望見諒。
二氧化硅, 三氧化二鋁, 氧化鐵, 氧化亞鐵, 氧化鎂, 氧化鈣, 氧化鈉, 氧化鉀, 二氧化鈦, 五氧化二磷, 氧化錳, 氧化鍶, 氧化鋇, 氧化鋰, 氧化銣, 氧化銫, 氧化鋅, 氧化銅, 氧化鉛, 氧化鉻
火成巖, 沉積巖, 變質巖, 礦石, 土壤, 泥沙, 粘土, 頁巖, 砂巖, 石灰巖, 花崗巖, 玄武巖, 輝長巖, 橄欖巖, 閃長巖, 片麻巖, 大理巖, 石英巖, 板巖, 火山灰
X射線熒光光譜法(XRF):通過測量樣品受X射線激發后產生的特征熒光光譜,定量分析元素含量。
電感耦合等離子體發射光譜法(ICP-OES):利用高溫等離子體激發樣品中的元素,測定其發射光譜強度。
原子吸收光譜法(AAS):通過測量基態原子對特定波長光的吸收來定量元素濃度。
電感耦合等離子體質譜法(ICP-MS):結合等離子體電離與質譜技術,實現高靈敏度元素分析。
重量法:通過化學反應后稱量沉淀物的質量計算元素含量。
滴定法:利用標準溶液與待測組分發生定量反應,通過滴定體積計算含量。
比色法:基于待測組分與顯色劑的顏色反應,通過吸光度測定濃度。
火焰光度法:通過測量元素在火焰中激發的特征光譜強度進行定量。
離子色譜法:分離并檢測樣品中的可溶性離子成分。
電子探針微區分析(EPMA):對微小區域進行高空間分辨率元素分析。
中子活化分析(NAA):利用中子輻照樣品后測量放射性核素的衰變特性。
激光剝蝕電感耦合等離子體質譜法(LA-ICP-MS):結合激光剝蝕與ICP-MS實現微區分析。
偏振能量色散X射線熒光光譜法(PED-XRF):提高XRF對輕元素的檢測靈敏度。
紫外-可見分光光度法(UV-Vis):測定特定波長下溶液的吸光度。
紅外光譜法(IR):通過分子振動光譜間接分析元素組成。
X射線熒光光譜儀, 電感耦合等離子體發射光譜儀, 原子吸收光譜儀, 電感耦合等離子體質譜儀, 電子天平, 紫外-可見分光光度計, 火焰光度計, 離子色譜儀, 電子探針微區分析儀, 中子活化分析儀, 激光剝蝕系統, 偏振能量色散X射線熒光光譜儀, 紅外光譜儀, 自動滴定儀, 比色計
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。
2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。
3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對于(地質樣品主量元素)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
上一篇: 過濾性濾膜堵塞測定
下一篇: 孔隙率(壓汞法)測定