原子力顯微鏡(AFM)表面粗糙度檢測

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注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

信息概要

原子力顯微鏡(AFM)表面粗糙度檢測是一種高精度的表面形貌分析技術，通過探針與樣品表面的相互作用力來測量納米級甚至原子級的表面形貌和粗糙度。該檢測廣泛應用于材料科學、半導體、生物醫學、納米技術等領域，對于產品質量控制、工藝優化以及研發創新具有重要意義。通過AFM檢測，可以獲取樣品表面的三維形貌、粗糙度參數、微觀結構等信息，為材料性能評估和工藝改進提供科學依據。

檢測項目

表面粗糙度(Ra), 均方根粗糙度(Rq), 最大峰谷高度(Rz), 平均高度(Rc), 表面偏斜度(Rsk), 表面峰度(Rku), 表面輪廓算術平均偏差(Ra), 表面輪廓最大高度(Ry), 表面輪廓微觀不平度十點高度(Rz), 表面輪廓均方根偏差(Rq), 表面輪廓峰谷高度(Rt), 表面輪廓峰密度(Rp), 表面輪廓谷密度(Rv), 表面輪廓峰谷比(Rp/Rv), 表面輪廓自相關長度, 表面輪廓功率譜密度, 表面輪廓分形維數, 表面輪廓斜率, 表面輪廓曲率, 表面輪廓波長

檢測范圍

半導體材料, 金屬材料, 聚合物材料, 陶瓷材料, 復合材料, 薄膜材料, 涂層材料, 生物材料, 納米材料, 光學材料, 磁性材料, 電子材料, 玻璃材料, 碳材料, 纖維材料, 橡膠材料, 塑料材料, 紙張材料, 木材材料, 石材材料

檢測方法

接觸模式AFM：探針與樣品表面直接接觸，通過測量探針的偏轉來獲取表面形貌信息。

非接觸模式AFM：探針在樣品表面上方振動，通過測量振動頻率的變化來獲取表面形貌信息。

輕敲模式AFM：探針在樣品表面輕敲振動，通過測量振幅的變化來獲取表面形貌信息。

相位成像AFM：通過測量探針振動的相位變化來獲取樣品表面的力學性質信息。

力調制AFM：通過測量探針與樣品表面的相互作用力來獲取樣品表面的彈性模量信息。

磁力AFM：通過測量探針與樣品表面的磁力相互作用來獲取樣品表面的磁性信息。

靜電力AFM：通過測量探針與樣品表面的靜電力相互作用來獲取樣品表面的電荷分布信息。

熱導AFM：通過測量探針與樣品表面的熱導率來獲取樣品表面的熱學性質信息。

納米壓痕AFM：通過測量探針在樣品表面的壓痕來獲取樣品表面的硬度信息。

摩擦力AFM：通過測量探針與樣品表面的摩擦力來獲取樣品表面的摩擦系數信息。

化學力AFM：通過測量探針與樣品表面的化學力相互作用來獲取樣品表面的化學性質信息。

高頻振動AFM：通過高頻振動探針來獲取樣品表面的高頻響應信息。

多頻AFM：通過多個頻率的振動探針來獲取樣品表面的多頻響應信息。

快速掃描AFM：通過快速掃描探針來獲取樣品表面的快速形貌變化信息。

環境控制AFM：通過控制環境條件（如溫度、濕度）來獲取樣品表面在不同環境下的形貌信息。

檢測儀器

原子力顯微鏡(AFM), 掃描探針顯微鏡(SPM), 接觸式輪廓儀, 非接觸式輪廓儀, 白光干涉儀, 激光共聚焦顯微鏡, 電子顯微鏡(SEM), 透射電子顯微鏡(TEM), X射線衍射儀(XRD), X射線光電子能譜儀(XPS), 拉曼光譜儀, 紅外光譜儀(FTIR), 紫外可見分光光度計(UV-Vis), 納米壓痕儀, 表面粗糙度儀

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（原子力顯微鏡(AFM)表面粗糙度檢測）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。