集成電路-高頻射頻識別芯片測試

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注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

測試樣品：集成電路-高頻射頻識別芯片

測試項目

靜電放電-人體模型檢測(ESD-HBM)，靜電放電-帶電器件模型檢測(ESD-CDM)，問鎖檢測(Latch-up)，低溫工作壽命檢測，靜態高溫長時間保存下數據退化檢測，常溫讀寫+保存數據退化及只讀檢測，高溫讀寫+保存數據退化檢測，低溫讀寫，協議一致性檢測，健社性檢測，早天期壽命檢測，高溫工作壽命檢測，芯片輻射電場抗擾度，芯片的DPI傳導抗擾度，強制功能檢測，擴展功能檢測，性能檢測，高溫存儲檢測(HTSL)，溫度循環檢測(TC)，芯片的PESD傳導抗擾度，濕敏等級檢測，預處理檢測，無偏壓高加速溫濕度壽命檢測(UHAST)，高加速溫濕度壽命檢測(HAST)，預處理檢測，無偏壓高加速溫濕度壽命檢測(UHAST)，高加速溫濕度壽命檢測(HAST)測試

測試周期：7-15個工作日，實驗可加急

測試標準

工業級高可靠集成電路評價 第 16 部分： 高頻射頻識別 T/CIE081—2020

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（集成電路-高頻射頻識別芯片測試）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。