納米粒子平均粒徑檢測

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注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

納米粒子平均粒徑檢測技術及應用分析

一、檢測樣品 本次檢測樣品為實驗室合成的三種納米材料：二氧化硅納米顆粒（SiO?）、氧化鋅納米顆粒（ZnO）及金納米顆粒（Au）。樣品制備采用溶膠-凝膠法（SiO?）、水熱法（ZnO）和化學還原法（Au），經離心純化后分散于去離子水中形成穩定懸浮液。

二、檢測項目

1. 粒徑分布曲線
2. 平均粒徑（D50）
3. 多分散指數（PDI）
4. 粒徑分布范圍（D10-D90）

三、檢測方法

1. 動態光散射法（DLS） 通過檢測納米粒子布朗運動引起的散射光強度波動，利用Stokes-Einstein方程計算流體力學直徑。該方法適用于1-1000 nm粒徑范圍的液態分散體系檢測。

2. 掃描電子顯微鏡法（SEM） 采用場發射掃描電鏡在20 kV加速電壓下觀察納米粒子形貌，通過ImageJ軟件對200個以上粒子的投影直徑進行統計分析，獲得幾何平均粒徑。

四、檢測儀器

1. 激光粒度分析儀（Malvern Zetasizer Nano ZS） 配備633 nm He-Ne激光器，散射角設置為173°，溫度控制精度±0.1℃，支持動態光散射與靜態光散射聯用技術。

2. 場發射掃描電子顯微鏡（FEI Nova NanoSEM 450） 配置二次電子探測器，分辨率達1.0 nm@15 kV，配合低真空模式實現非導電樣品直接觀測。

五、檢測結果分析 DLS檢測顯示三類樣品的平均粒徑分別為：SiO?（68.5±2.3 nm）、ZnO（42.1±1.8 nm）、Au（15.6±0.9 nm）。SEM測量結果與DLS數據偏差小于8%，證實樣品具有良好單分散性。PDI值均低于0.15，符合ISO 22412標準對單分散體系的判定要求。

六、技術應用 精確的粒徑檢測為納米材料在藥物遞送、催化反應和光學器件等領域的應用提供關鍵參數支持。建議對高濃度樣品（>1 mg/mL）采用離心稀釋預處理，避免多重散射效應影響DLS測試精度。

關鍵詞：納米粒子，粒徑分析，動態光散射，電子顯微鏡，材料表征

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（納米粒子平均粒徑檢測）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。