激光粒徑檢測相關檢測標準

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注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

信息概要

激光粒徑檢測是測量顆粒物粒徑分布的關鍵手段，廣泛應用于制藥、化工、材料科學、環境監測等領域。該檢測通過分析樣品中顆粒的散射光信號，精確獲取粒徑大小及分布數據，對產品質量控制、工藝優化及合規性驗證至關重要。第三方檢測機構提供專業服務，確保檢測結果符合國際及行業標準（如ISO 13320、GB/T 19077等），助力企業提升產品性能并滿足法規要求。

檢測項目

粒徑分布，D10值，D50值，D90值，體積平均粒徑，數量平均粒徑，比表面積，粒度跨度，均勻性指數，Zeta電位，分散穩定性，顆粒濃度，形狀因子，折射率，吸收率，團聚狀態，多峰分布分析，沉積速率，懸浮穩定性，光學透明度，散射強度，顆粒密度，流體力學直徑，結晶度，表面粗糙度

檢測范圍

金屬粉末，陶瓷粉末，納米材料，聚合物顆粒，藥物微粒，乳液，懸浮液，氣溶膠，碳黑，顏料，催化劑，磨料，水泥，土壤顆粒，化妝品粉體，食品添加劑，電池材料，磁性顆粒，生物制劑，石墨烯，礦物填料，纖維粉末，膠體溶液，半導體顆粒，復合材料粉末

檢測方法

激光衍射法（基于夫瑯禾費衍射原理分析散射光角度分布），動態光散射法（通過布朗運動測定納米級顆粒的流體力學直徑），靜態光散射法（測量散射光強度隨角度的變化），圖像分析法（顯微鏡結合圖像處理軟件統計粒徑），離心沉降法（利用離心力分離不同粒徑顆粒），電聲波法（通過超聲波衰減特性分析懸浮液顆粒），庫爾特計數法（基于電阻變化測量單個顆粒體積），X射線小角散射（SAXS，適用于亞微米級顆粒分析），光子相關光譜法（PCS，用于納米顆粒動態行為研究），電鏡輔助法（SEM/TEM結合圖像處理），納米顆粒追蹤分析（NTA，實時追蹤顆粒運動軌跡），場流分級法（FFF，分離復雜分散體系顆粒），氣溶膠飛行時間法（TOF，測量空氣中顆粒物分布），濁度法（基于懸浮液透光率推算粒徑），共振質量測量法（通過微懸臂振動頻率變化檢測顆粒質量）

檢測儀器

激光粒度分析儀，動態光散射儀，靜態光散射儀，掃描電子顯微鏡，透射電子顯微鏡，庫爾特計數器，離心沉降儀，納米顆粒追蹤分析儀，X射線衍射儀，超聲波粒度分析儀，場流分級系統，氣溶膠粒徑譜儀，Zeta電位分析儀，比表面分析儀，圖像分析系統

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（激光粒徑檢測相關檢測標準）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。