注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。
GB/T 37131-2018
DB32/T 4894-2024
微機電系統半導體氣體傳感器性能檢測方法
- 【發布單位或類別】 CN-DB32江蘇省地方標準
- 【發布日期】2024-11-07
- 【CCS分類】L40半導體分立器件綜合
- 【ICS分類】31.080其他半導體分立器件
GB/T 43493.2-2023
半導體器件 功率器件用碳化硅同質外延片缺陷的無損檢測識別判據 第2部分：缺陷的光學檢測方法
- 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
- 【發布日期】2023-12-28
- 【CCS分類】L90電子技術專用材料
- 【ICS分類】31.080.99其他半導體分立器件
GB/T 43493.3-2023
半導體器件 功率器件用碳化硅同質外延片缺陷的無損檢測識別判據 第3部分：缺陷的光致發光檢測方法
- 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
- 【發布日期】2023-12-28
- 【CCS分類】L90電子技術專用材料
- 【ICS分類】31.080.99其他半導體分立器件
GB/T 43493.1-2023
半導體器件 功率器件用碳化硅同質外延片缺陷的無損檢測識別判據 第1部分：缺陷分類
- 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
- 【發布日期】2023-12-28
- 【CCS分類】L90電子技術專用材料
- 【ICS分類】31.080.99信息技術應用綜合
T/QGCML 3970-2024
T/CZSBDTHYXH 001-2023
T/SZBSIA 007-2022
IC類半導體固晶機檢測規范
- 【發布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
- 【發布日期】2022-09-23
- 【CCS分類】機械
- 【ICS分類】其他半導體分立器件
T/CIE 120-2021
半導體集成電路硬件木馬檢測方法
- 【發布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
- 【發布日期】2021-11-22
- 【CCS分類】L55電氣照明
- 【ICS分類】31.200半導體器分立件綜合
IEC 63364-1:2022
半導體器件物聯網系統用半導體器件第1部分:聲音變化檢測的試驗方法
- 【發布單位或類別】 IX-IEC國際電工委員會
- 【發布日期】2022-12-14
- 【CCS分類】醫療器械
- 【ICS分類】31.080.99包裝機械
20201542-T-339
半導體器件 機械和氣候試驗方法 第16部分：粒子碰撞噪聲檢測（PIND）
- 【發布單位或類別】 CN-PLAN國家標準計劃
- 【發布日期】2020-04-01
- 【CCS分類】L40
- 【ICS分類】31.080.01半導體器分立件綜合
T/CASME 1447-2024
半導體與電子領域封裝用高精度智能視覺檢測機通用技術要求
- 【發布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
- 【發布日期】2024-04-28
- 【CCS分類】J
- 【ICS分類】55.200半導體器分立件綜合
KS C IEC 60749-16-2006
半導體器件機械和氣候試驗方法第16部分:顆粒碰撞噪聲檢測（PIND）
- 【發布單位或類別】 KR-KS韓國標準
- 【發布日期】2006-11-30
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】31.080.01有關燈的其他標準
KS C IEC 60749-16-2006
半導體器件機械和氣候試驗方法第16部分:粒子碰撞噪聲檢測（PIND）
- 【發布單位或類別】 KR-KS韓國標準
- 【發布日期】2006-11-30
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】31.080.01流體存儲裝置綜合
T/CSA 004-2010
半導體照明試點示范工程LED道路和隧道照明現場檢測及驗收實施細則
- 【發布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
- 【發布日期】2010-07-20
- 【CCS分類】K70/79
- 【ICS分類】29.140.99流體存儲裝置綜合
T/CHPSA YY005-2024
半導體超純聚合物過流部件污染物檢測及表面粗糙度技術要求
- 【發布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
- 【發布日期】2024-11-01
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】23.020.01半導體器分立件綜合
T/CMES 24021-2024
半導體超純聚合物過流部件污染物檢測及表面粗糙度技術要求
- 【發布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
- 【發布日期】2024-12-30
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】23.020.01無損檢測
IEC 60749-16:2003
半導體器件 - 機械和氣候測試方法 - 第16部分:粒子撞擊噪聲檢測（PIND）
- 【發布單位或類別】 IX-IEC國際電工委員會
- 【發布日期】2003-01-17
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】31.080.01
UNE-EN 60749-16:2003
半導體器件 機械和氣候試驗方法 第16部分:顆粒碰撞噪聲檢測（PIND）
- 【發布單位或類別】 ES-UNE西班牙標準
- 【發布日期】2003-11-21
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
u0413u041eu0421u0422 u0420 u041cu042du041a 61674-2006
實驗儀器
測試流程
注意事項
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。
2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。
3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異
5.如果對于（半導體 檢測 新檢測標準）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
上一篇： 塔吊檢測合格的檢測標準
下一篇： pcr檢測設備價格檢測標準
- 護坡磚檢測機械檢測標準閱讀：6
- 殘留dna檢測藥典檢測標準閱讀：10
- 賽車出廠檢測什么檢測標準閱讀：9
- 珠寶檢測證書檢測標準閱讀：13
- 設備接地檢測電阻檢測標準閱讀：15
- 齒輪檢測視頻講解檢測標準閱讀：8
- ED檢測真檢測標準閱讀：13
- 蘋果檢測軟件鑒定檢測標準閱讀：13
- 豆油檢測水分檢測標準閱讀：14
- 核酸檢測陰性診斷檢測標準閱讀：16
-
服務保障 一對一品質服務
-
定制方案 提供非標定制試驗方案
-
保密協議 簽訂保密協議，嚴格保護客戶隱私
-
全國取樣/寄樣 全國上門取樣/寄樣/現場試驗
