<progress id="13fzx"><noframes id="13fzx"><th id="13fzx"><address id="13fzx"></address></th>
<th id="13fzx"></th><strike id="13fzx"></strike>
<th id="13fzx"></th>
<strike id="13fzx"></strike>
<span id="13fzx"><video id="13fzx"></video></span>
<th id="13fzx"><address id="13fzx"><th id="13fzx"></th></address></th>
<progress id="13fzx"><noframes id="13fzx">
<progress id="13fzx"><noframes id="13fzx">
歡迎您訪問北檢(北京)檢測技術研究所!
試驗專題 站點地圖 400-635-0567

當前位置:首頁 > 檢測項目 > 非標實驗室 > 檢測標準

紙箱厚度檢測測試檢測標準

原創發布者:北檢院    發布時間:2025-01-31     點擊數:

獲取試驗方案?獲取試驗報價?獲取試驗周期?

注意:因業務調整,暫不接受個人委托測試望見諒。

GB/T 37158-2018

無損檢測 工業計算機層析成像(CT)檢測最大可檢測鋼厚度測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2018-12-28
  • 【CCS分類】J04基礎標準與通用方法
  • 【ICS分類】19.100無損檢測

GB/T 37122-2018

無損檢測 工業計算機層析成像(CT) 檢測用最大可檢測鋼厚度測試卡

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2018-12-28
  • 【CCS分類】J04基礎標準與通用方法
  • 【ICS分類】19.100無損檢測

u0413u041eu0421u0422 u0420 u0418u0421u041e 16809-2015

非破壞性測試 超聲波檢測厚度測量

  • 【發布單位或類別】 RU-GOST俄羅斯國家標準
  • 【發布日期】
  • 【CCS分類】N05儀器、儀表用材料和元件
  • 【ICS分類】19.100無損檢測

GB/T 6618-2009

硅片厚度和總厚度變化測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 30857-2014

藍寶石襯底片厚度及厚度變化測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2014-07-24
  • 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗方法
  • 【ICS分類】77.040金屬材料試驗

GB/T 30867-2014

碳化硅單晶片厚度和總厚度變化測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2014-07-24
  • 【CCS分類】H83化合物半導體材料
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 42674-2023

光學功能薄膜 微結構厚度測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2023-08-06
  • 【CCS分類】G15有機化工原料綜合
  • 【ICS分類】71.080.99其他有機化學品

GB/T 30869-2014

太陽能電池用硅片厚度及總厚度變化測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2014-07-24
  • 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗方法
  • 【ICS分類】77.040金屬材料試驗

GB/T 15717-2021

真空金屬鍍層厚度測試方法 電阻法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2021-10-11
  • 【CCS分類】A83包裝方法
  • 【ICS分類】55.040包裝材料和輔助物

GB/T 29507-2013

硅片平整度、厚度及總厚度變化測試 自動非接觸掃描法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2013-05-09
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

ASTM D1400-00

用于非鐵金屬基底的非導電涂層干膜厚度無損檢測的標準測試方法(2006年)

  • 【發布單位或類別】 US-ASTM美國材料與試驗協會
  • 【發布日期】2000-11-10
  • 【CCS分類】金屬物理性能試驗方法
  • 【ICS分類】87.040涂料和清漆

GB/T 40279-2021

硅片表面薄膜厚度的測試 光學反射法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2021-08-20
  • 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗方法
  • 【ICS分類】77.040金屬材料試驗

GB/T 42905-2023

碳化硅外延層厚度的測試 紅外反射法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2023-08-06
  • 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗方法
  • 【ICS分類】77.040金屬材料試驗

GB/T 6618-1995

硅片厚度和總厚度變化測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】1995-04-18
  • 【CCS分類】H21體育設施及器械
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

TY/T 2003.2-2021

運動面層性能測試方法 第2部分:厚度

  • 【發布單位或類別】 CN-TY行業標準-體育
  • 【發布日期】2021-07-08
  • 【CCS分類】Y55體育設施及器械
  • 【ICS分類】97.220.10運動設施

TY/T2003.2-2021

運動面層性能測試方法 第2部分:厚度

  • 【發布單位或類別】 CN-TY行業標準-體育
  • 【發布日期】2021-07-08
  • 【CCS分類】Y55電子技術專用材料
  • 【ICS分類】97.220運動設備和設施

SJ/T 10859-1996

鉻版鉻膜和膠膜厚度的測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-SJ行業標準-電子
  • 【發布日期】1996-11-20
  • 【CCS分類】L90包裝方法
  • 【ICS分類】金屬鍍層

GB/T 15717-1995

真空金屬鍍層厚度測試方法 電阻法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】1995-10-18
  • 【CCS分類】A83
  • 【ICS分類】25.220.40表面特征

ASTM C664-24

擴散涂層厚度的標準測試方法

  • 【發布單位或類別】 US-ASTM美國材料與試驗協會
  • 【發布日期】2024-11-01
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】17.040.20粘合劑和膠粘產品

ASTM D3652/D3652M-01

壓敏膠帶厚度的標準測試方法

  • 【發布單位或類別】 US-ASTM美國材料與試驗協會
  • 【發布日期】2020-10-01
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】83.180

實驗儀器

實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器

測試流程

紙箱厚度檢測測試檢測標準流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。

3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異

5.如果對于(紙箱厚度檢測測試檢測標準)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

  • 服務保障 一對一品質服務
  • 定制方案 提供非標定制試驗方案
  • 保密協議 簽訂保密協議,嚴格保護客戶隱私
  • 全國取樣/寄樣 全國上門取樣/寄樣/現場試驗
<progress id="13fzx"><noframes id="13fzx"><th id="13fzx"><address id="13fzx"></address></th>
<th id="13fzx"></th><strike id="13fzx"></strike>
<th id="13fzx"></th>
<strike id="13fzx"></strike>
<span id="13fzx"><video id="13fzx"></video></span>
<th id="13fzx"><address id="13fzx"><th id="13fzx"></th></address></th>
<progress id="13fzx"><noframes id="13fzx">
<progress id="13fzx"><noframes id="13fzx">
最近手机中文字幕高清大全