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硅片檢測國家最新檢測標準

原創發布者:北檢院    發布時間:2024-12-17     點擊數:

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注意:因業務調整,暫不接受個人委托測試望見諒。

GB/T 34479-2017

硅片字母數字標志規范

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2017-10-14
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 26067-2010

硅片切口尺寸測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2011-01-10
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 14140-2009

硅片直徑測量方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H82元素半導體材料
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 6619-2009

硅片彎曲度測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

YS/T 28-2015

硅片包裝

  • 【發布單位或類別】 CN-YS行業標準-有色金屬
  • 【發布日期】2015-04-30
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 43315-2023

硅片流動圖形缺陷的檢測 腐蝕法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2023-11-27
  • 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗方法
  • 【ICS分類】77.040金屬材料試驗

GB/T 32279-2015

硅片訂貨單格式輸入規范

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2015-12-10
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 6621-2009

硅片表面平整度測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 29055-2019

太陽能電池用多晶硅片

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2019-06-04
  • 【CCS分類】H82元素半導體材料
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 6620-2009

硅片翹曲度非接觸式測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H82元素半導體材料
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 6618-2009

硅片厚度和總厚度變化測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 42789-2023

硅片表面光澤度的測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2023-08-06
  • 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗方法
  • 【ICS分類】77.040金屬材料試驗

GB/T 40279-2021

硅片表面薄膜厚度的測試 光學反射法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2021-08-20
  • 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗方法
  • 【ICS分類】77.040金屬材料試驗

HG/T 5962-2021

硅片切割廢液處理處置方法

  • 【發布單位或類別】 CN-HG行業標準-化工
  • 【發布日期】2021-08-21
  • 【CCS分類】Z05污染控制技術規范
  • 【ICS分類】13.030.20液態廢物、淤泥

YS/T 26-2016

硅片邊緣輪廓檢驗方法

  • 【發布單位或類別】 CN-YS行業標準-有色金屬
  • 【發布日期】2016-07-11
  • 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗方法
  • 【ICS分類】77.040金屬材料試驗

GB/T 6617-2009

硅片電阻率測定 擴展電阻探針法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

YB/T 4397-2014

切割硅片用電鍍黃銅鋼絲

  • 【發布單位或類別】 CN-YB行業標準-黑色冶金
  • 【發布日期】2014-05-06
  • 【CCS分類】H49鋼絲、鋼絲繩
  • 【ICS分類】77.140.65鋼絲、鋼絲繩和環節鏈

GB/T 29505-2013

硅片平坦表面的表面粗糙度測量方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2013-05-09
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 11073-2007

硅片徑向電阻率變化的測量方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2007-09-11
  • 【CCS分類】H17半金屬及半導體材料分析方法
  • 【ICS分類】77.040.01金屬材料試驗綜合

GB/T 32814-2016

硅基MEMS制造技術 基于SOI硅片的MEMS工藝規范

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2016-08-29
  • 【CCS分類】L55微電路綜合
  • 【ICS分類】31.200集成電路、微電子學

實驗儀器

實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器

測試流程

硅片檢測國家最新檢測標準流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。

3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異

5.如果對于(硅片檢測國家最新檢測標準)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

  • 服務保障 一對一品質服務
  • 定制方案 提供非標定制試驗方案
  • 保密協議 簽訂保密協議,嚴格保護客戶隱私
  • 全國取樣/寄樣 全國上門取樣/寄樣/現場試驗
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