翹曲度檢測方法檢測標準

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2020-06-02
• 【CCS分類】J04基礎標準與通用方法
• 【ICS分類】其他有機化學品

光學功能薄膜 翹曲度測定方法

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2010-09-26
• 【CCS分類】G15有機化工原料綜合
• 【ICS分類】71.080.99金屬材料的其他試驗方法

藍寶石襯底片翹曲度測試方法

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2014-12-31
• 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗方法
• 【ICS分類】77.040.99半導體材料

硅片翹曲度非接觸式測試方法

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2009-10-30
• 【CCS分類】H82元素半導體材料
• 【ICS分類】29.045金屬材料試驗

太陽能電池用硅片翹曲度和波紋度測試方法

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2014-07-24
• 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗方法
• 【ICS分類】77.040扁平鋼和半成品

鋼帶翹曲檢測方法

• 【發布單位或類別】 CN-YB行業標準-黑色冶金
• 【發布日期】2022-09-30
• 【CCS分類】H46鋼板、鋼帶
• 【ICS分類】77.140.50金屬材料化學分析

硅片翹曲度非接觸式測試方法

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】1995-04-18
• 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗方法
• 【ICS分類】77.040.30半導體器分立件綜合

印制板翹曲度測試方法

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】1984-07-25
• 【CCS分類】L30印制電路
• 【ICS分類】金屬材料試驗

半導體器件的機械標準化 第6-19部分：高溫下封裝翹曲度的測量方法和最大允許翹曲度

• 【發布單位或類別】 CN-PLAN國家標準計劃
• 【發布日期】2023-08-06
• 【CCS分類】金屬物理性能試驗方法
• 【ICS分類】31.080.01半導體材料

瓷磚試驗方法第2部分:表面質量、尺寸和彎曲度、翹曲度和矩形度、后腳形狀和高度以及裝飾磚角度的測定

• 【發布單位或類別】 JP-JSA日本工業標準調查會
• 【發布日期】2008-01-01
• 【CCS分類】金屬物理性能試驗方法
• 【ICS分類】金屬材料試驗

耐火磚翹曲度的測量方法

• 【發布單位或類別】 JP-JSA日本工業標準調查會
• 【發布日期】1975-01-01
• 【CCS分類】煙草制品
• 【ICS分類】煙草、煙草制品和煙草工業設備

硅片翹曲度和彎曲度的測試 自動非接觸掃描法

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2022-03-09
• 【CCS分類】H21
• 【ICS分類】77.040

用自動非接觸掃描法測量硅片翹曲度的標準試驗方法

• 【發布單位或類別】 US-ASTM美國材料與試驗協會
• 【發布日期】1997-06-10
• 【CCS分類】
• 【ICS分類】29.045

硅片翹曲度測試自動非接觸掃描法

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2015-12-10
• 【CCS分類】H21
• 【ICS分類】77.040

煙絲長度、寬度、卷曲度的檢測　圖像法

• 【發布單位或類別】 CN-YC行業標準-煙草
• 【發布日期】2024-01-29
• 【CCS分類】X87
• 【ICS分類】65.160

太陽能硅片第2-3部分:硅片幾何尺寸的測量波紋度和翹曲度

• 【發布單位或類別】 DE-DIN德國標準化學會
• 【發布日期】2007-06-01
• 【CCS分類】
• 【ICS分類】