注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。
GB/T 31351-2014
GB/T 31351-2014
硅拋光片表面質量目測檢驗方法
- 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
- 【發布日期】2009-10-30
- 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
- 【ICS分類】29.045半導體材料
GB/T 31351-2014
金屬拋光表面質量檢測及評判規則
- 【發布單位或類別】 CN-HG行業標準-化工
- 【發布日期】2009-02-05
- 【CCS分類】G90化工機械與設備綜合
- 【ICS分類】71.120.01化工設備綜合
GB/T 31351-2014
- 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
- 【發布日期】2014-03-27
- 【CCS分類】光電子器件綜合
- 【ICS分類】纖維光學和光學互連器件
GB/T 31351-2014
纖維光學互連器件和無源器件 基本試驗和測量程序 第3-16部分：檢查和測量 球面拋光套管端面半徑
- 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
- 【發布日期】2007-06-29
- 【CCS分類】L50光電子器件綜合
- 【ICS分類】33.180.20纖維光學和光學互連器件
GB/T 31351-2014
纖維光學互連器件和無源器件 基本試驗和測量程序 第3-30部分：檢查和測量 單套管多芯光纖連接器拋光角度和光纖位置
- 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
- 【發布日期】2007-06-29
- 【CCS分類】L50金屬物理性能試驗方法
- 【ICS分類】33.180.20化工產品
GB/T 31351-2014
硅拋光片表面質量目測檢驗方法
- 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
- 【發布日期】1995-04-18
- 【CCS分類】H21金屬理化性能試驗方法
- 【ICS分類】71.100半導體材料
GB/T 31351-2014
碳化硅單晶拋光片表面質量和微管密度檢測方法-激光散射檢測法
- 【發布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
- 【發布日期】2019-12-27
- 【CCS分類】H20/29稀土金屬及其合金
- 【ICS分類】29.045其他有色金屬及其合金
GB/T 31351-2014
稀土拋光粉
- 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
- 【發布日期】2012-11-05
- 【CCS分類】H65光電子器件綜合
- 【ICS分類】77.120.99纖維光學和光學互連器件
GB/T 31351-2014
纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第3-17部分:檢查和測量角度拋光型插針的端面角度
- 【發布單位或類別】 CN-PLAN國家標準計劃
- 【發布日期】2012-10-12
- 【CCS分類】L50光電子器件綜合
- 【ICS分類】33.180.20纖維光學和光學互連器件
GB/T 31351-2014
纖維光學互連器件和無源器件 基本試驗和測量程序 第3-47部分：檢查和測量 采用干涉法測量PC/APC球面拋光型插針的端面幾何尺寸
- 【發布單位或類別】 CN-PLAN國家標準計劃
- 【發布日期】2023-12-01
- 【CCS分類】L50其他無機化工原料
- 【ICS分類】33.180.20其他無機化學品
GB/T 31351-2014
拋光膏
- 【發布單位或類別】 CN-HG行業標準-化工
- 【發布日期】2006-07-26
- 【CCS分類】G14制藥加工機械與設備
- 【ICS分類】71.060.99化工設備
GB/T 31351-2014
膠囊拋光機
- 【發布單位或類別】 CN-JB行業標準-機械
- 【發布日期】2016-04-05
- 【CCS分類】C92磨床
- 【ICS分類】71.120磨床和拋光機
GB/T 31351-2014
檢查和測量.單套圈多纖維連接器的拋光角度和纖維位置
- 【發布單位或類別】 US-TIA美國電信工業協會
- 【發布日期】2007-03-01
- 【CCS分類】半金屬與半導體材料綜合
- 【ICS分類】半導體材料
GB/T 31351-2014
拋光機
- 【發布單位或類別】 CN-JB行業標準-機械
- 【發布日期】2007-01-25
- 【CCS分類】J55機械
- 【ICS分類】25.080.50半導體材料
GB/T 31351-2014
硅拋光回收片
- 【發布單位或類別】 CN-YS行業標準-有色金屬
- 【發布日期】2014-10-14
- 【CCS分類】H80
- 【ICS分類】29.045其他機床
GB/T 31351-2014
拋光設備工藝驗證方法
- 【發布單位或類別】 CN-SJ行業標準-電子
- 【發布日期】2018-01-18
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】纖維光學和光學互連器件
GB/T 31351-2014
拋光硅片中氧化缺陷檢測的標準實施規程
- 【發布單位或類別】 US-ASTM美國材料與試驗協會
- 【發布日期】1997-06-10
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】29.045
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激光加工機床 微結構檢測方法 第4部分：微拋面
- 【發布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
- 【發布日期】2022-08-02
- 【CCS分類】J
- 【ICS分類】25.080.99
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光纖互連器件和被動元件 - 基本測試和測量程序 - 第3-16部分:檢查和測量 - 球面拋光套管的端面半徑
- 【發布單位或類別】 KR-KS韓國標準
- 【發布日期】2020-12-23
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】33.180.20
實驗儀器
測試流程
注意事項
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。
2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。
3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異
5.如果對于（檢測拋光標準）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
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服務保障 一對一品質服務
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定制方案 提供非標定制試驗方案
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保密協議 簽訂保密協議，嚴格保護客戶隱私
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全國取樣/寄樣 全國上門取樣/寄樣/現場試驗
